測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
82mm光柵尺解析度
0.1um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/100重復精度
2.5um總放大倍率
18~195X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.5um
測量精度
2.5+L/200重復精度
2.5um總放大倍率
25.2~158.4X物方視場
8.1~1.3mm工作距離
90mm光柵尺解析度
0.1um
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新聞資訊
News時間：03-29 2024 來自：祥宇精密
一鍵圖像測量工具也稱為“閃測儀”、“一鍵閃測儀”、“一鍵式測量儀”、“一鍵式光學測量儀”、“圖像尺寸測量儀”和“一鍵圖像尺寸測量儀”。采用新型圖像測量技術，是一種可以輕松、批量、快速、準確地測量二維平面尺寸的精密測量儀器。
范圍和場景：
一鍵影像測量工具主要應用領域包括：沖壓件、輔助件、CNC加工件、沖壓芯片、端子、連接器、粉末冶金件、磁性材料、注塑件、模切、齒輪、螺絲、零件結構、印刷可用于生產印刷電路板、手表、切削工具、瓶蓋、電容器、電阻器、電感器等。用于替代容易誤判的螺旋卡尺、千分尺以及效率低下的二維測量儀器和難于使用的CNC成像儀、投影儀、體型等，在首檢等檢查工序中可使用顯微鏡等傳統測量儀器、巡檢、進料檢驗、出貨檢驗。
特征：
一鍵式圖像測量工具無需專業操作。可隨意放置，一鍵即可批量測量。它可以測量每個產品的100個樣品和300個尺寸。測量時間不會因樣品多、尺寸多而呈幾何級數增加。測量完成后自動生成數據表。一鍵式圖像測量工具可以顯著減少檢測工時，提高生產線效率和產品質量。
FM系列一鍵式圖像測量工具：
全部視野100%精度保證，同時雙視野測量；配備2000萬像素CMOS相機和0.005亞像素邊緣提取算法，測量結果更準確；具有四種照明模式，可清晰獲得零件的投影輪廓和表面輪廓、表面臺階輪廓、表面倒角輪廓等；配備50nm分辨率和81mm/s速度的電平臺，可實現跨視野和跨鏡頭測量。
400-801-9255
聯系人：張小姐
電 話：0769-8160-1125
郵 箱：dgxycmm@163.com
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